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現(xiàn)有分離的:平面A 和 平面B,距離dis=200mm
$ Y; k. {, L6 N7 d H) ~2 C: W平面A上有target點(diǎn) X,平面B上有target 點(diǎn)Y6 g/ r# g$ `0 w) r( E
X點(diǎn)固定,Y點(diǎn)可在平面B上移動(dòng)。& O7 s: h G, h1 K0 b8 N0 e6 O
/ s8 n" G/ Z" E6 D/ q, z A6 x1 a. K移動(dòng)Y點(diǎn),如何得知Y點(diǎn),是否 與X點(diǎn),同軸?(即共線于 X點(diǎn)為原點(diǎn)的平面A的法線上)
+ P g7 U. G. a: u同軸的精度要求,<0.1mm/ L+ ]3 A. w" N6 z. F7 [6 \
+ M0 P5 |6 z% e: P6 L, @我的考慮:
* y/ k% a6 o/ y1.鐳射——落于平面A,leveling調(diào)整后,鐳射打出一根雙通的,垂直于平面A的“法線”。
! R+ o2 I9 b% P3 J; t' U. P8 O2.做治具,車一根200mm長(zhǎng)的圓柱軸,精加工IT7級(jí),兩端同軸查表能<50um
# C: k3 Y( y) O8 n上述兩個(gè)方法的各自缺點(diǎn):( j( P* }5 b0 {0 E
1.鐳射本身的垂直度——查了幾家的鐳射儀,參數(shù)里沒看到 鐳射自身光線,相對(duì)leveling調(diào)整后平面的垂直度,不知道出廠有沒有此保證值。
$ P9 W V+ T2 n: ?. w! M& O( v! V2.鐳射激光光斑大小——如果是肉眼看,最小的光斑也要mm為單位吧,光斑的中心還只能目測(cè)。8 k! T4 K9 V5 F7 X- ^/ G
3.治具的方法——平面A B上如果都是孔,治具還能用。但是針對(duì)A/B平面的target都是點(diǎn),則治具……; b# F D3 t3 b* h$ I( k
在治具中心點(diǎn)一個(gè)point? 或者是治具一端車成尖頭? 但是這個(gè)又涉及到 點(diǎn)、尖頭的直徑問題。. C7 O$ ~& X. V/ F! p4 U9 R: O. N
8 a$ v+ s' f6 H肉眼不可靠,考慮用相機(jī)、鐳射接收器?但是這兩者都需要放置于法線路徑上,都會(huì)擋住任意一個(gè)點(diǎn)…
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# N1 X$ U4 y( k* r- p) w( c" u- C求教大家,有沒有更好的辦法?$ ?% c" R9 p: c/ J. [. W
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7 A: v9 B6 Y: E9 }: B4 x- A |
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