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異形物體真實(shí)體積刻度的作法 |
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點(diǎn)評
1、采樣的步長足夠小,數(shù)據(jù)量足夠多,精度不會(huì)太粗;
2、異形采樣肯定是從頭采到尾,全程都采;
3、采樣步長足夠小的情況下,還需提高精度,生成曲線,中間的點(diǎn)本身就是用插值法進(jìn)去的,偏差也不會(huì)太大。
4、反推
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點(diǎn)評
是啊,刻度線相對于坐標(biāo)原地的距離,與容積不成正比嘛
標(biāo)識容積100-1000的,間隔100,這間隔100用這種方法是不成立的。它有可能間隔60,也有可能間隔200,也有可能是任意數(shù)值,取決于你截面的變化情況。中間刻度量也不均勻。
用這方法,任意容積都能求出標(biāo)線的位置,必須是我采樣數(shù)據(jù)表范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)。
這樣刻度線的位置肯定不是均勻的,但它的位置能準(zhǔn)確反應(yīng)對應(yīng)的內(nèi)部體積(在一定的精度誤差范圍內(nèi))。
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