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X - 光分析 ( XRD ) – shimadzu XRD-6000 ( 40kv,30mA,step 0.02 deg.,speed 4 deg. / min.ffice ffice" />
2 ?- [1 X: f9 J4 H or 1 deg. / min.) | % T2 F' o2 {5 W- |2 `' B
8 I( L7 @# t4 F9 u0 G; s( ^# m% N5 W$ O1 ?( s
◎晶體結構 | * f: M- t5 [3 G% m
+ U0 h2 P# j; W, A9 w. u' g* T Cubic |
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◎空間群 |
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4 p. P( C9 T' p- ~* J8 R6 o! S ◎晶格參數(R.T) | # V# f! A7 [ s9 }4 y# [
9 j) Y9 r( T1 ?6 b, ?: a, h1 p (A) 3.570 |
* z+ W; S: g I! [5 U+ g. P- F* Z, \* v$ a# y/ j1 ~% P5 q
7 N2 L, l3 h3 A9 P% ]
◎密度(g/cm3) |
5 e) V2 U9 s9 @ Y7 q8 f
7 P- W8 e4 ^* M( y+ z 3.508 |
* `; G& U! Y/ H. _! w: e) N u: Y" P5 Y) J& U
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◎晶面(111) | 6 Q7 F+ `3 d; s# o& z) p
7 G0 l$ i& X c, e# Q, z
202 |
3 x, [- u" f6 B0 V+ U% W
' V/ K# w* ^( {( p- F4 F- J$ T
( q) S, ~& O$ L6 V 粗糙度分析 ( SPM ) - Thermo Microscopes CP Research ( 50 μm * 50 μm ) |
- q/ d: U; _) m0 \- f5 O9 J4 Q* a- X
& |6 q, g# }* {; ~0 P ◎中心線平均粗糙面Ra ( Ave. Rough ) | 3 J. s6 W, Q: T; B: i
4 J+ e* H% X& ^7 l: ~# d6 [
總面積 / 底長86.39 nm霧面,1.052 nm亮面。 | ( |. G0 B1 Z# ]6 e1 r C
% e6 X. {$ y* Z* R8 r
7 g5 _2 H, b6 v% ` ◎中心線均方根粗糙面Rq ( Rms Rough ) | " M8 z* u5 ]# o. s7 z% p1 C: P
% `" F- w, A4 {1 x# R 104.8 nm霧面,1.321 nm亮面。 |
: d) L/ Q( r1 l5 W# t+ Y2 ]1 l# ?2 x. T2 l* {
/ x [5 E- G" } ◎Rp 250.4 nm霧面,2.592 nm亮面,Rv 189.1 nm霧面,6.156 nm亮面。 | 8 L# p' X$ y% t8 b4 ]4 J
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4 q: \; m( t3 S* |) R2 Z9 H
◎高低差異值為 8 nm 亮面。 |
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% r8 m7 a- _9 s7 n# }, D( C7 v: c) q 2 P5 s, v" I6 `2 S
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( w6 O4 v0 M) ?5 B) Q; A 1 n5 \/ U9 } B* z# b8 e! ?
8 z2 a# t& K+ D: K圖片: 7 q7 y. Q7 f5 M& \* `
顆粒顯微分析一
2 p& A# P2 j" n& N http://images13.51.com/10/a/50/c6/jamesliu8029/c75c1677bcef434a879d7d44eeaad6f9.jpg
( I. `/ ]) T7 t! M0 m) ^7 h顆粒顯微分析二
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! Z# q8 r+ H, ~4 N顆粒顯微分析三 9 D$ ?) |5 v8 B1 Z: d" {1 j
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3 O% k/ X: v6 F _4 _1 A顆粒顯微分析四 7 _% v" G4 v t3 ?" ` k
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- S3 ?) s: U# y3 G/ |6 [, x8 K顆粒顯微分析五 # Q9 E, R: ?7 _' B
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顆粒顯微分析六
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顆粒顯微分析七
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2 i1 l8 _7 \! p" y
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