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【特材知識(shí)】鹽酸對(duì)Hastelloy B-3的腐蝕影響: Y# t' z7 V, {. E7 o. ?# T
鹽酸屬還原性強(qiáng)酸,大多金屬或合金在鹽酸介質(zhì)中都會(huì)因活化腐蝕而溶解,工程耐鹽酸腐蝕材料僅限于Ti、Zr、Ta、Nb、W以及鎳基耐蝕合金。HastelloyB-3是目前耐還原性介質(zhì)腐蝕最好的鎳基耐蝕合金,已廣泛應(yīng)用于醋酸生產(chǎn)工藝及鹽酸儲(chǔ)存裝置。通過不同濃度與溫度鹽酸中的浸泡腐蝕試驗(yàn)與電化學(xué)試驗(yàn),研究濃度與溫度對(duì)B-3合金腐蝕行為,了解B-3的材質(zhì)性能。
; z$ ~. w5 |; T" n" a 鹽酸濃度對(duì)B-3腐蝕速率的影響" Y( p$ P" m6 W
圖4.1為80℃下,HastelloyB-3在5%、15%、20%、30%、37%不同濃度鹽酸中的腐蝕速率。
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圖4.1(a)為80℃,HastelloyB-3腐蝕速率隨鹽酸濃度的變化,隨著鹽酸濃度提高,腐蝕速率上升,濃度低于20%,上升緩慢;高于20%上升速度加快。由圖4.1(b)為80℃,HastelloyB-3每個(gè)周期腐蝕速率隨鹽酸濃度的變化。同一鹽酸濃度下,隨著試驗(yàn)時(shí)間延長(zhǎng),腐蝕速率變化不大,表明腐蝕過程中,合金表面狀態(tài)比較穩(wěn)定。37%鹽酸中HastelloyB-3腐蝕速率仍然低于0.55mm/a,表明在純鹽酸中具非常好的耐蝕性。* g2 a0 s+ s0 `
圖4.2 是80℃中 Hastelloy B-3在5%、15%、20%、30%、37%不同鹽酸濃度中浸泡144h后的微觀腐蝕形貌。
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/ Q. M- Y- ?6 D5 P( A 5%HCl中晶界處、孿晶界處處有輕微的腐蝕痕跡,碳化物沒有腐蝕;15%HCl中晶界和孿晶處有較輕的腐蝕痕跡,并且晶界處的碳化物明顯脫落;20%HCl中可以看到明顯的碳化物帶,晶界和孿晶界有明顯的腐蝕,并且碳化物脫落,形成明顯的點(diǎn)蝕源頭;30%HCl中晶內(nèi)的碳化物明顯脫落,發(fā)生明顯點(diǎn)蝕現(xiàn)象;37%HCl中點(diǎn)蝕進(jìn)一步擴(kuò)展,點(diǎn)蝕的數(shù)量和尺寸明顯增加。
$ {4 ~' @# _( Z9 p$ Y! E 碳化物帶處容易形成元素的富集,造成能量的升高,腐蝕行為優(yōu)先發(fā)生。同時(shí)由于碳化物為富鉬相,碳化物的脫落造成周圍鉬元素的貧瘠,鈍化膜進(jìn)一步遭到破壞,從而使腐蝕進(jìn)一步擴(kuò)展。隨著鹽酸濃度的上升,晶界和碳化物帶的腐蝕痕跡明顯加深。隨著鹽酸濃度逐漸上升,腐蝕痕跡逐漸加深,點(diǎn)蝕程度逐漸加深。/ ]# ]& x" p+ }8 d5 N K8 f# i
鹽酸濃度對(duì)B-3電化學(xué)行為的影
' c3 C' w2 o# |& V8 N" s 圖4.3為室溫下,Hastelloy B-3在5%、15%、20%、30%、37%HCl中的極化曲線。
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由圖4.3可以看出,隨著鹽酸濃度逐漸升高,極化曲線整體下移,自腐蝕電位下降,過鈍化電位下降,但鈍化區(qū)長(zhǎng)度與斜率變化不大,鈍化電流密度也未顯著增加,表明隨著鹽酸濃度升高,合金表面鈍化膜的狀態(tài)比較穩(wěn)定。同時(shí)鈍化區(qū)域電流密度逐漸增加,即在相同的鈍化電位下,鈍化電流密度逐漸增加,鈍化膜穩(wěn)定性逐漸下降。鈍化膜穩(wěn)定性下降,材料在鹽酸中的腐蝕速率逐漸增加。
7 t: y2 f) n( {' s1 U6 E( Z) S5 [ 圖4.4為HastelloyB-3在室溫下,不同濃度鹽酸中電化學(xué)實(shí)驗(yàn)后的微觀腐蝕形貌。
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由圖4.4可以看出,位于晶界處的碳化物首先脫落形成點(diǎn)蝕的源頭,并且隨著電化學(xué)實(shí)驗(yàn)的進(jìn)行,點(diǎn)蝕坑深度逐漸增大。在低濃度的鹽酸中,材料有明顯的點(diǎn)蝕坑,晶界和孿晶界并不明顯;隨著鹽酸濃度升高,材料中有明顯的點(diǎn)蝕坑,晶界和孿晶界也有明顯被腐蝕的痕跡。 2 S+ ?, ~, m; D% U( [* J
在鹽酸環(huán)境中,材料碳化物和晶界容易形成元素的富集,造成能量的升高,在腐蝕過程中容易形成“大陰極小陽極”的現(xiàn)象,腐蝕容易在晶界處發(fā)生。碳化物為富鉬相,碳化物的溶解造成周圍區(qū)域鉬元素的貧瘠,鈍化膜穩(wěn)定性進(jìn)一步遭到破壞,從而使腐蝕進(jìn)一步發(fā)展。 : @* g/ k% v- d% }& T
溫度對(duì)B-3腐蝕速率的影響
: ]2 S+ I7 @0 Z$ j2 @" J3 Y! R 圖4.5為15%HCl中,Hastelloy B-3在室溫、40℃、60℃、80、98℃條件下的腐蝕速率。
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; b0 n3 W6 c0 L- v* ? ^ 圖4.5(a)為腐蝕速率隨溫度變化曲線,當(dāng)溫度低于60℃時(shí),腐蝕速率增加緩慢,當(dāng)溫度大于60℃時(shí),腐蝕速率急劇增加。98℃下,15%HCl中,HastelloyB-3的腐蝕速率為0.31mm/a,具有一定的耐蝕性能。圖4.5(b)為每個(gè)周期腐蝕速率的變化曲線,隨著時(shí)間的延長(zhǎng),室溫、40℃、60℃、80℃條件下,腐蝕速率基本不變;98℃條件下,腐蝕速率有小幅下降。
! Z% z1 n; |9 m) ?/ r* m 圖4.6為15%HCl中,Hastelloy B-3 在室溫、60℃、80℃、98℃不同溫度浸泡144h 后的微觀腐蝕形貌。
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I4 l# }# w5 [& G' l. d 在室溫條件下,晶界和孿晶界有輕微腐蝕痕跡,碳化物未被腐蝕;在60℃下,晶界和孿晶界有較輕的腐蝕痕跡,碳化物脫落,形成點(diǎn)蝕的源頭;在80℃下,晶界和孿晶界有明顯腐蝕痕跡,碳化物脫落,出現(xiàn)點(diǎn)蝕現(xiàn)象;在98℃下,晶界和孿晶界腐蝕痕跡進(jìn)一步加深,碳化物大量脫落,出現(xiàn)嚴(yán)重點(diǎn)蝕。 + S4 N8 w) b$ U6 |& C z$ i
溫度對(duì)B-3電化學(xué)行為的影響
; R* E- E3 ~: E# n9 x; N 圖4.7在15%HCl中,Hastelloy B-3在不同溫度中的極化曲線。$ b" \! j) _) o% g% w4 d5 D
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隨著溫度上升,合金的自腐蝕電位逐漸升高,過鈍化電位下降,鈍化區(qū)區(qū)域變短,試樣很容易進(jìn)入過鈍化區(qū),形成過鈍化腐蝕;鈍化區(qū)曲線斜率減小,電位變化對(duì)電流影響增大,鈍化膜穩(wěn)定性減弱。
' N! t2 a# s# h0 {- x3 p) \! \" G 圖4.8為不同溫度條件下,HastelloyB-3在15%HCl中的微觀腐蝕形貌。) G# g L, u' F1 L
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" }9 v% E8 {& U+ B 圖4.8可以看出,經(jīng)過電化學(xué)實(shí)驗(yàn),材料中的析出物脫落,形成了點(diǎn)蝕的源頭。在室溫條件下,晶界、孿晶界和碳化物明顯腐蝕。隨著溫度上升,晶界和孿晶界腐蝕痕跡明顯加深,點(diǎn)蝕坑數(shù)量和尺寸明顯增加。
0 H) g. G8 ]! d/ P, U HastelloyB-3試驗(yàn)的總結(jié)
" t! N( Q9 f1 N$ Z& Y 實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,鹽酸濃度和溶液溫度對(duì)HastelloyB-3腐蝕速率和極化曲線的影響有相似的地方,其中包括: 0 e6 U- Z$ J5 \
①鹽酸濃度升高或者溫度上升,材料的腐蝕速率增加;
v4 e2 v9 a/ m ②鹽酸濃度升高或者溫度上升,鈍化區(qū)域變窄,鈍化區(qū)曲線斜率變小;5 t3 M9 h4 z) ]$ i5 h* z, D
③鹽酸濃度升高或者溫度上升,過鈍化電位下降;
' T. A6 t. y7 O! u, Z. a+ s8 h 但兩者對(duì)極化曲線的影響是相反的,主要區(qū)別如下:
; _: \/ `/ e* C1 o: l' T" _6 [ ①鹽酸濃度升高,自腐蝕電位下降; # c( |$ ~5 I4 v/ i3 F1 D: t) ?" a$ w
②溶液溫度升高,自腐蝕電位也增加。 3 N" N( n0 e2 L3 g0 i
因此,兩者對(duì)HastelloyB-3在鹽酸中的腐蝕影響程度是不同,與鹽酸濃度相比,溫度是相對(duì)更重要的影響因素。因?yàn)闇囟壬呤棺愿g電位升高的同時(shí),也使過鈍化電位下降,兩者之間的鈍化區(qū)域必然變窄。而鹽酸濃度使自腐蝕電位下降的同時(shí)也使過鈍化電位下降,鈍化區(qū)域沒有明顯變化。即對(duì)于Hastelloy B-3,溫度對(duì)極化曲線的影響程度大于鹽酸濃度。7 s- C' o5 q/ ^5 |8 M
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