無(wú)塵手套的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及方法

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轉(zhuǎn)一篇百度知道上的帖子，我所接觸過(guò)的是LPC測(cè)試(liquide particle count).
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由于高科技產(chǎn)品的精度越來(lái)越高，愈來(lái)愈多的產(chǎn)品被要求在相對(duì)潔凈的無(wú)塵室中生產(chǎn)、包裝、測(cè)試，如電腦的磁頭、硬盤、LCD、數(shù)碼像機(jī)、光學(xué)電子等行業(yè)。在這些行業(yè)中，會(huì)使用到大量的無(wú)塵室專用手套用于保護(hù)產(chǎn)品、人員、環(huán)境等。

3 ]' p6 s7 t+ r) q" Y& a& I" d由于高科技產(chǎn)品的精度越來(lái)越高，愈來(lái)愈多的產(chǎn)品被要求在相對(duì)潔凈的無(wú)塵室中生產(chǎn)、包裝、測(cè)試，如電腦的磁頭、硬盤、LCD、數(shù)碼像機(jī)、光學(xué)電子等行業(yè)。在這些行業(yè)中，會(huì)使用到大量的無(wú)塵室專用手套用于保護(hù)產(chǎn)品、人員、環(huán)境等。從污染的角度理解，人被視為潔凈室內(nèi)最大的污染物發(fā)生源，操作人員通過(guò)穿上特殊的服裝系統(tǒng)來(lái)保護(hù)潔凈室環(huán)境，免受人員產(chǎn)生的污染物的污染。手套作為這種服裝系統(tǒng)的重要組成部分，不但具有充分的防護(hù)作用，同時(shí)不會(huì)污染受控環(huán)境中生產(chǎn)工藝的關(guān)鍵區(qū)域，所以手套的作用很關(guān)鍵。IEST-RP-005.3主要就手套的原料、生產(chǎn)、包裝、測(cè)試等做了詳細(xì)的規(guī)定。
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到底該選用何種手套在無(wú)塵室中使用，IEST沒(méi)有明確的規(guī)定，但是建議從產(chǎn)品的精度、無(wú)塵室的級(jí)別、成本核算等方面綜合考慮。一般來(lái)說(shuō)，如果是ISO 5級(jí)或以上的無(wú)塵室，建議使用丁腈橡膠手套；如果是生產(chǎn)晶圓、磁頭、硬盤、光學(xué)儀器等應(yīng)使用丁腈橡膠手套。
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由于手套多數(shù)時(shí)候是和產(chǎn)品直接接觸的，所以對(duì)其品質(zhì)要求是非常嚴(yán)格的，IEST標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)生產(chǎn)后的手套，在使用前必須進(jìn)行清洗以及測(cè)試合格后方可使用。測(cè)試主要分四部分：外觀檢查、物理測(cè)試、ESD性能測(cè)試、化學(xué)測(cè)試。下面主要介紹一下化學(xué)方面的測(cè)試。

& k& {! ?. d  w1 z' }( P要做化學(xué)測(cè)試，首先需要專門的儀器、環(huán)境、水源、輔助系統(tǒng)等支持，即需要建造一個(gè)實(shí)驗(yàn)室。這是一筆相當(dāng)大的開支，多數(shù)企業(yè)不會(huì)選擇自己做測(cè)試，選用專門的有資格的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試是一個(gè)好的辦法，不過(guò)需要付出一定的測(cè)試費(fèi)用。
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由于對(duì)產(chǎn)品的影響多是微觀因素，即一些肉眼看不見的塵粒子、微生物等，所以測(cè)試手套也是從微觀方面做出分析：
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6 u$ t, m- X; y; l& W; R0 N! ~1．LPC測(cè)試(液態(tài)塵粒測(cè)試)：LPC測(cè)試是將被測(cè)物浸泡于DI水中，再進(jìn)行1分鐘的超聲波震蕩，將附著在被測(cè)物上的塵粒溶解于DI水中，然后計(jì)算DI水中液態(tài)塵粒的數(shù)量的方法。該測(cè)試是檢查手套潔凈度的一種重要測(cè)試方法，主要看手套會(huì)跌落多少對(duì)產(chǎn)品有影響的塵粒，如磁頭行業(yè)，對(duì)于大于或等于0.5um的塵粒，不能超過(guò)3000個(gè)每平方厘米（@0.5um<=3000counts/cm^2）。
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" e6 k: r1 I# {& J2．NVR(非揮發(fā)性殘留物)測(cè)試：是測(cè)試手套上非揮發(fā)性殘留物含量的一種測(cè)試方法，測(cè)試時(shí)，用一定量的溶劑對(duì)被測(cè)試部位進(jìn)行淋洗或浸泡，收集淋洗或浸泡后的溶液使溶劑揮發(fā)，用微量天平稱量殘留物，即可得出手套上非揮發(fā)性殘留物的含量.NVR超標(biāo)可知手套表面有非揮發(fā)性殘留物污染。在電腦硬盤行業(yè)，一般規(guī)定NVR<20ug/cm^2。

3．FTIR（傅立葉紅外線光譜）測(cè)試：由于產(chǎn)品的要求，無(wú)塵室不允許有硅油、氨基化合物、DOP等物質(zhì)存在，因?yàn)樵撔┪镔|(zhì)會(huì)影響到產(chǎn)品的質(zhì)量。因此，對(duì)手套必須進(jìn)行FTIR測(cè)試。測(cè)試時(shí)，用一定量的溶劑對(duì)被測(cè)試部位進(jìn)行淋洗或浸泡，收集淋洗或浸泡后的溶液使溶劑揮發(fā)，將殘留物作紅外線光譜分析。這種方法可以分析出手套上是否殘留有硅油、氨基化合物、DOP等。（注意：該測(cè)試的結(jié)果如果合格，則表示上述三種殘留物沒(méi)有超過(guò)敏感線，并不表示完全沒(méi)有）。
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4．IC（離子測(cè)試）：是將被測(cè)物浸泡于DI水中，再進(jìn)行超聲波震蕩，將附著在被測(cè)物上的無(wú)機(jī)陰陽(yáng)離子溶解于DI水中，然后再進(jìn)行色譜分析的方法。IC測(cè)試可測(cè)出被測(cè)物上陰陽(yáng)離子的種類，及每種離子的含量。該測(cè)試最常監(jiān)控的離子是Cl-、NO3-、SO4-、PO4-等，一般總重量不能超過(guò)1.0(Total<1.0)。

1 n: n3 f1 v$ B. ?. S5．GC（有機(jī)揮發(fā)物色譜測(cè)試）：是用來(lái)分析手套上有機(jī)污染物的種類和含量的一種方法。測(cè)試時(shí)，將手套加溫到一定溫度，使有機(jī)污染物揮發(fā),將揮發(fā)出來(lái)的氣體收集起來(lái)，進(jìn)行色譜分析，可得出有機(jī)污染物的種類和含量，當(dāng)GC測(cè)試超標(biāo)時(shí)，說(shuō)明手套上的有機(jī)污染物超標(biāo)。一般在磁頭行業(yè)其標(biāo)準(zhǔn)控制在10ug/g(Total：GC<10ug/g)。
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2 k2 }, ^7 c8 u& O8 g以上測(cè)試是行業(yè)中最常規(guī)的幾種測(cè)試，同時(shí)IEST還規(guī)定了如硫化氫測(cè)試、耐腐蝕測(cè)試、灰燼測(cè)試等，企業(yè)可以根據(jù)產(chǎn)品的需要做出適當(dāng)?shù)倪x擇。

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談?wù)凩PC測(cè)試,
+ E) q- k; |9 O6 R6 }. p& W) Q被檢測(cè)物品一般材質(zhì)可以是金屬,塑料件,或者封裝完好的芯片, 橡膠件不可以---疏松多孔的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)決定了它一定攜帶大量塵粒.

浸泡在DI水中的高度也有要求,沉在水底和懸在中間,測(cè)試結(jié)果是不一樣的. 而且零件的懸掛方向也需要指定,影響到測(cè)試結(jié)果的一致性.

超聲波震蕩時(shí)間依據(jù)客戶指定執(zhí)行, 不同時(shí)間結(jié)果差異較大.

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關(guān)于硅油, 在硬盤內(nèi)部也是不允許存在的,
所以在注塑件圖紙上可以見到技術(shù)要求里面明確寫著: Silicon mold release is not allowed.

鋒--D！

我想咨詢一下，哪里有對(duì)無(wú)塵乳膠手套的等級(jí) 的檢測(cè)機(jī)構(gòu)。我郵箱fengdada091309@163.com