巴斯夫(BASF)創(chuàng)造出一種先進的電鍍銅化學品,可滿足現(xiàn)今及未來芯片科技的需求。巴斯夫與IBM 于2007 年6月開始這一聯(lián)合開發(fā)項目,這項創(chuàng)新的化學品解決方案是其直接成果。這種解決方案的表現(xiàn)超越了市場上現(xiàn)有的其它化學品;賦予電化學沉積銅工藝迅速、無缺陷的超填孔 (superfill) 能力,以制造更可靠、更優(yōu)質(zhì)的芯片。
9 T+ C" g8 t, k1 P3 d實現(xiàn)無缺陷的電導線沉積是成功沉積銅工藝最關(guān)鍵的條件。在電鍍銅沉積工藝中,傳統(tǒng)的等向性充填(conformal fill)會在形體的上、下、外 + `" o0 W4 l. d9 U% \& q
圍產(chǎn)生同樣的銅沉積率,形成接縫及缺陷。通過采用巴斯夫的化學品可以實現(xiàn)快速的充填,一般稱為“超填孔(superfill)”,可以將銅快速的充填至細小的通孔及溝槽,制造出無缺陷的銅導線。通過超填充的方式,底部的銅沉積率會比頂部及外圍更高。
6 X4 y+ q: L: W+ e1 e, b8 r銅導線可顯著改善芯片效能,這種高傳導性金屬的沉積是建構(gòu)多層互連結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵性工藝。時下最先進的芯片技術(shù)被稱為32 納米技術(shù)節(jié)點,而下一代的22 納米技術(shù)預期將于2011 年推出。當芯片尺寸越來越小,互連結(jié)構(gòu)日趨復雜,要制造出高性能的芯片就更需要專門的化學知識。同時,純熟完善的化學工藝解決方案也是必不可少的。
: Z6 b+ s) n2 o- s+ z8 M巴斯夫的電鍍銅化學品已經(jīng)可以應(yīng)用在 32 納米和22 納米的芯片技術(shù)中,能明顯改善芯片銅導線的可靠性,提升芯片的性能和質(zhì)量。
$ j) {& a v- Y: y兩家公司正擴展他們的合作計劃,以確定量產(chǎn)所需的參數(shù)。相關(guān)的技術(shù)、化學品和材料預計可于 2010 年中期上市供應(yīng)。
: Y, ` Z$ y( N6 k) D7 p. x巴斯夫全球電子材料業(yè)務(wù)部研發(fā)部門的資深經(jīng)理兼該項目負責人Dieter Mayer 表示:“我們?yōu)檫@一創(chuàng)新的化學品感到興奮無比。巴斯 夫與IBM Z5 H9 j- G9 j- L7 {$ k4 D
團隊選擇了一種新的方式,通過對于沉積銅物理特性的了解來設(shè)計分子添加劑系統(tǒng)。利用巴斯夫與IBM 強大的資源,我們已經(jīng)克服了在電鍍銅方面的主要挑戰(zhàn),朝著制造更小、更快、更可靠芯片的目標又邁進了一步。”8 Q+ ~3 B* b! T1 r+ Y' _
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2010-5-8 09:04 上傳
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